首页>>产品展示>>AOI>>DIP缺陷检测/终检
设备原理:
通过上下两个高精度相机,对同一块板卡移动拍照,采取卷积神经网络算法处理图像,智能判定元器件不良和焊锡不良。
检测T/B双面元器件的错漏反及焊锡缺陷。
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